ГлавнаяРуководствоНаучные подразделенияНаучно-технический советНаучная деятельностьПубликации и патентыНаучно-организационная деятельностьМеждународное сотрудничествоПредложения по сотрудничествуБухгалтерский учет и бюджетированиеСпецоценка рабочих местСведения по противодействию коррупцииУслугиНовостиКонтакты

  • исследование структуры поверхности металлов, полупроводников, диэлектриков
  • исследование структуры порошковых материалов
  • исследование деталей, узлов и изделий микроэлектроники, СВЧ-приборов и т.п. для выявления дефектов, брака, причин отказа в работе
  • исследование структуры поверхности материалов после термообработки, пластической деформации, воздействия концентрированных потоков энергии и т.п. при имитационных и натурных испытаниях, подборе режимов технологической обработки или разработке новых материалов
  • проведение классического качественного и количественного анализа в точке
  • проведение анализа объектов произвольной формы
  • проведение автоматического многоточечного анализа
  • запись профилей концентрации по выбранной линии
  • элементное картирование с цветокодировкой по элементному составу