ГлавнаяРуководствоНаучные подразделенияНаучно-технический советНаучная деятельностьПубликации и патентыНаучно-организационная деятельностьМеждународное сотрудничествоПредложения по сотрудничествуБухгалтерский учет и бюджетированиеСпецоценка рабочих местСведения по противодействию коррупцииУслугиНовостиКонтакты
Растровый электронный микроскоп EVO 40 фирмы Zeiss, оснащенный SDD кремниевым дрейфовым детектором X Flash 1106.
Это современный, универсальный, наиболее эффективный, аналитический растровый электронный микроскоп для проведения исследований во всех областях материаловедения физики, химии, микроэлектроники и других областях науки и техники.
Малый диаметр электронного зонда, высокая чувствительность к сигналам, разнообразные режимы сканирования позволяют получать качественные изображения с высоким разрешением для широкого спектра образцов.
Высокое энергетическое разрешение, высокая скорость счета, наиболее полный диапазон идентифицируемых элементов, большой набор способов снятия и методов расшифровки спектров делают EVO 40 с X Flash детектором лидером в классе микроскопов при проведении рентгеновского микроанализа.
Основные технические характеристики прибора.                                    
EVO 40.   Разрешение:  40 ? ( вольфрамовый катод )
Увеличение:   от 20х до 1 000 000х
Ускоряющее напряжение: от 0,2 кВ до 30 кВ
Ток зонда:  от 0,5 пА до 1 мкА
Аналитическое расстояние:  от 3 мм до 35 мм
X Flash детектор.
Энергетическое разрешение: 127 эВ
Диапазон анализируемых элементов: от Бора (5) до
Америция (95)

Вакуумный пост JEE-420 фирмы JEOL для пробоподготовки образцов электронной микроскопии - нанесения тонких токопроводящих пленок на диэлектрические образцы методом термического распыления в высоком вакууме.