Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ
Высококвалифицированный специалист отдела материаловедения с большим стажем работы проведёт исследования структуры и элементного состава поверхности материалов (кроме влажных биологических образцов) методами растровой электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа по заказам организаций и частных лиц.
Любые задачи, связаннее с исследованием микроструктуры поверхности:
- исследование пористых материалов;
- исследование порошковых материалов;
- исследование защитных покрытий;
- исследование структуры материалов после деформационной обработки;
- исследование структуры материалов после термической обработки;
- исследование коррозионных повреждений материалов;
- исследование дефектов изделий микроэлектроники;
- исследование радиационной повреждаемости органических неорганических материалов и многое другое;
- проведение классического качественного и количественного безэталонного анализа в точке;
- проведение анализа объектов произвольной формы;
- проведение автоматического многоточечного анализа;
- запись профилей концентрации по выбранной линии;
- элементное картирование с цветокодировкой по элементному составу.
Результаты наших исследований могут не только нести новую информацию об исследуемом объекте, но и служить убедительным подтверждением Ваших выводов или предположений, достойным украшением любого отчета, доклада, диссертации.
Наше оборудование
Растровый электронный микроскоп EVO 40 фирмы Zeiss, оснащенный кремниевым дрейфовым детектором SDD X Flash 1106, для проведения прецизионных морфологических и рентгеноспектральных исследований материалов во всех областях материаловедения физики, химии, микроэлектроники и других областях науки и техники.
Малый диаметр электронного зонда, высокая чувствительность к сигналам, разнообразные режимы сканирования позволяют получать качественные изображения с высоким разрешением для широкого спектра образцов.
Высокое энергетическое разрешение (127 эВ), высокая скорость счета, наиболее полный диапазон идентифицируемых элементов (от Бора до Америция), большой набор способов снятия и методов расшифровки спектров делают EVO 40 с X Flash детектором универсальным, эффективным, аналитическим микроскопом при проведении рентгеновского микроанализа.
Вакуумный пост JEE-420 фирмы JEOL для пробоподготовки образцов электронной микроскопии - нанесения тонких токопроводящих пленок на диэлектрические образцы методом термического распыления в высоком вакууме.
Преимущества и возможности метода РЭМ с РМА
Стоимость работ определяется в зависимости от сложности решаемых задач , пробоподготовки образца и формы предоставления результатов. Средняя стоимость часа исследований составляет 2000 руб. час.
По желанию исследования проводятся в присутствии заказчика.