ГлавнаяРуководствоНаучные подразделенияНаучно-технический советНаучная деятельностьПубликации и патентыНаучно-организационная деятельностьМеждународное сотрудничествоПредложения по сотрудничествуБухгалтерский учет и бюджетированиеСведения по противодействию коррупцииУслугиНовостиКонтакты

Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ

Высококвалифицированный специалист отдела материаловедения с большим стажем работы проведёт исследования структуры и элементного состава поверхности материалов (кроме влажных биологических образцов) методами растровой электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа по заказам организаций и частных лиц.

Любые задачи, связаннее с исследованием микроструктуры поверхности:

  • исследование пористых материалов;
  • исследование порошковых материалов;
  • исследование защитных покрытий;
  • исследование структуры материалов после деформационной обработки;
  • исследование структуры материалов после термической обработки;
  • исследование коррозионных повреждений материалов;
  • исследование дефектов изделий микроэлектроники;
  • исследование радиационной повреждаемости органических неорганических  материалов и многое другое;
  • проведение классического качественного и количественного безэталонного анализа в точке;
  • проведение анализа объектов произвольной формы;
  • проведение автоматического многоточечного анализа;
  • запись профилей концентрации по выбранной линии;
  • элементное картирование с цветокодировкой по элементному составу.

Результаты наших исследований могут не только нести новую информацию об исследуемом объекте, но и служить убедительным подтверждением Ваших выводов или предположений, достойным украшением любого отчета, доклада, диссертации.

Наше оборудование

Растровый электронный микроскоп EVO 40 фирмы Zeiss, оснащенный кремниевым дрейфовым детектором SDD X Flash 1106, для проведения прецизионных морфологических и рентгеноспектральных исследований материалов во всех областях материаловедения физики, химии, микроэлектроники и других областях науки и техники.

Малый диаметр электронного зонда, высокая чувствительность к сигналам, разнообразные режимы сканирования позволяют получать качественные изображения с высоким разрешением для широкого спектра образцов.

Высокое энергетическое разрешение (127 эВ), высокая скорость счета, наиболее полный диапазон идентифицируемых элементов (от Бора до Америция), большой набор способов снятия и методов расшифровки спектров делают EVO 40 с X Flash детектором универсальным, эффективным, аналитическим микроскопом при проведении рентгеновского микроанализа.

Вакуумный пост JEE-420 фирмы JEOL для пробоподготовки образцов электронной микроскопии - нанесения тонких токопроводящих пленок на диэлектрические образцы методом термического распыления в высоком вакууме.

Преимущества и возможности метода РЭМ с РМА


Стоимость работ определяется в зависимости от сложности решаемых задач , пробоподготовки образца и формы предоставления результатов. Средняя стоимость часа исследований составляет 2000 руб. час.

По желанию исследования проводятся в присутствии заказчика.